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AWL系列半導體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運機是由高精度光學檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運系統(tǒng)組成，支持4-12寸的晶圓尺寸，可輕松實現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細節(jié)的高清捕捉，可對半導體過程工藝中的關鍵參數(shù)、缺陷問題進行有效監(jiān)控，是晶圓來料檢測和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。

更新日期：2025-11-28

型號：AWL系列

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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AWL046晶圓缺陷光學檢測設備

AWL046型晶圓缺陷光學檢測設備(半導體晶圓缺陷檢測)是由高精度光學檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運系統(tǒng)組成。設備兼具穩(wěn)定性和安全性，能夠安全可靠的傳送晶圓，適合于前道到后道工程的晶圓檢查一個晶圓在經(jīng)過一系列復雜工序后最終變成多個IC單元，期間晶圓需要依賴搬運機在處理站之間執(zhí)行快速、精確的傳送作業(yè)。

更新日期：2025-11-28

型號：AWL046

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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MS系列高精度工具測量顯微鏡

MS高精度工具測量顯微鏡結(jié)合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測量儀的 X、Y、Z 軸表面尺寸測量功能，具備明暗場、微分干涉、偏光等多種觀察功能。可廣泛應用于半導體、PCB、LCD、手機產(chǎn)業(yè)鏈、光通訊、基礎電子、模具五金、醫(yī)療器械、汽車行業(yè)、計量行業(yè)等領域的檢測。

更新日期：2025-11-28

型號：MS系列

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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