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AWL系列半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)/國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)

AWL系列半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)/國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)是由高精度光學(xué)檢測(cè)顯微鏡搭載全自動(dòng)晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成，支持4-12寸的晶圓尺寸，可輕松實(shí)現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細(xì)節(jié)的高清捕捉，可對(duì)半導(dǎo)體過(guò)程工藝中的關(guān)鍵參數(shù)、缺陷問(wèn)題進(jìn)行有效監(jiān)控，是晶圓來(lái)料檢測(cè)和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。

更新日期：2025-11-28

型號(hào)：AWL系列

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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AWL046晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

AWL046型晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備(半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè))是由高精度光學(xué)檢測(cè)顯微鏡搭載全自動(dòng)晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成。設(shè)備兼具穩(wěn)定性和安全性，能夠安全可靠的傳送晶圓，適合于前道到后道工程的晶圓檢查一個(gè)晶圓在經(jīng)過(guò)一系列復(fù)雜工序后最終變成多個(gè)IC單元，期間晶圓需要依賴搬運(yùn)機(jī)在處理站之間執(zhí)行快速、精確的傳送作業(yè)。

更新日期：2025-11-28

型號(hào)：AWL046

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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AWL068晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備

AWL068型晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備是由高精度光學(xué)檢測(cè)顯微鏡搭載全自動(dòng)晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成。設(shè)備兼具穩(wěn)定性和安全性，能夠安全可靠的傳送晶圓，適合于前道到后道工程的晶圓檢查一個(gè)晶圓在經(jīng)過(guò)一系列復(fù)雜工序后最終變成多個(gè)IC單元，期間晶圓需要依賴搬運(yùn)機(jī)在處理站之間執(zhí)行快速、精確的傳送作業(yè)。

更新日期：2025-11-28

型號(hào)：AWL068

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)

國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)是由高精度光學(xué)檢測(cè)顯微鏡搭載全自動(dòng)晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成，設(shè)備兼具穩(wěn)定性和安全性，能夠安全可靠的傳送晶圓，適合于前道到后道工程的晶圓檢查。

更新日期：2025-11-28

型號(hào)：

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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